Szkolenie: Statystyczne sterowanie procesem SPC - podstawy

Kategoria: JAKOŚĆ I BEZPIECZEŃSTWO / Zarządzanie Jakością

Szkolenie zamknięte

Najedź kursorem na daną ikonkę aby dowiedzieć się więcej

Osoba kontaktowa:
Joanna Bielewicz
tel.: (012) 397 1881
email: info@tqmsoft.com.pl

  • Poleć znajomemu
  • Zadaj pytanie


Tytuł: Statystyczne sterowanie procesem SPC - szkolenie podstawowe
Kategoria: JAKOŚĆ I BEZPIECZEŃSTWO / Zarządzanie Jakością
Metodyka: Wykłady
Opis: Na szkolenie składają się wykłady i ćwiczenia. Szkolenie ma charakter kompleksowy, od podstaw do praktycznego wykorzystania metod SPC. Omawiana jest zarówno problematyka konstrukcji określonych metod jak i ich efektywnego wykorzystania.

Adresaci szkolenia:
- osoby zajmujące się problemami zapewnienia jakości,
- pracownicy działów jakości, inżynierowie jakości, technolodzy, kierownicy, mistrzowie,
- osoby odpowiedzialne za jakość dostawców.

Korzyści dla przedsiębiorstwa:
- Możliwość objęcia metodologią SPC prowadzonych procesów w celu identyfikacji ich statystycznej stabilności i możliwości doskonalenia ( poprawa zdolności)
- Ocena własnych potrzeb i możliwości w zakresie SPC
- Podniesienie kwalifikacji personelu nadzorującego proces.

Zobacz pełną naszą ofertę na temat SPC
Poziom zaawansowania : początkujący
Trenerzy: trener TQMsoft, specjalista – praktyk w dziedzinie metod statystycznych w zarządzaniu jakością, metod statystycznych w Six Sigma
Program: 1.Rola i znaczenie SPC we współczesnych systemach zarządzania jakością.
2.Zmienność, przyczyny przypadkowe i szczególne zmienności. Pojęcie procesu stabilnego (pod kontrolą) i rozregulowanego (poza kontrolą). Statystyczny opis zmienności – obliczanie i interpretacja średniej, mediany, rozstępu, odchylenia standardowego (przykłady). Graficzne metody prezentacji danych: konstrukcja i interpretacja histogramu (przykłady, ćwiczenia).
3.Zdolność procesu. Obliczanie i interpretacja współczynników zdolności procesu/maszyny Cp, Cpk, Cm, Cmk, Cp, Cpk. Wykorzystanie rozkładu normalnego w analizie zdolności procesu. Zdolność procesu a wadliwość. Jakość doskonała w podejściu Six Sigma (przykłady, ćwiczenia).
4.Karty kontrolne jako narzędzie monitorowania procesu; ogólne zasady funkcjonowania. Konstrukcja kart kontrolnych Shewarta dla cech mierzalnych (wartości średniej i rozstępu, wartości średniej i odchylenia standardowego, mediany i rozstępu, pojedynczych obserwacji i ruchomego rozstępu) i według oceny alternatywnej (liczby jednostek niezgodnych (np), frakcji jednostek niezgodnych (p), liczby niezgodności (c), liczby niezgodności na jednostkę (u)). Obliczanie współczynników zdolności procesu Cp, Cpk na podstawie informacji zawartych w kartach kontrolnych dla cech mierzalnych. Przeliczanie kart dla cech mierzalnych przy zmianie liczności próbki. Zalety i wady kart kontrolnych Shewharta dla cech mierzalnych i według oceny alternatywnej. Zasady optymalnego doboru karty i jej wykorzystania: metody próbkowania, kryteria identyfikacji rozregulowania procesu (sygnały, trendy, serie, testy strefowe itp.). Wybrane sytuacje szczególne: karta kontrolna w przypadku procesów z trendem spowodowanym np. zużywaniem się narzędzia, karta kontrolna ważonej liczby niezgodności na jednostkę itp. (przykłady, ćwiczenia).
5.Wzajemne relacje pomiędzy SPC a nadzorowaniem aparatury kontrolno-pomiarowej (MSA) i analizą skutków i przyczyn wad (FMEA). Krótki przegląd metod SPC w zakresie doskonalenia procesu.
6.Zasady wdrażania metod SPC.
Świadczenia dodatkowe: Cena szkolenia obejmuje: szkolenie, materiały, certyfikat uczestnictwa w szkoleniu, obiady, słodki poczęstunek, możliwość bezpłatnych, krótkich konsultacji do 3 miesięcy po szkoleniu, pomoc w rezerwacji hotelu.
 

Poleć szkolenie znajomemu