Szkolenie: Analiza systemów pomiarowych - metoda R&R
Kategoria: JAKOŚĆ I BEZPIECZEŃSTWO / Inne
Szkolenie zamknięte
Najedź kursorem na daną ikonkę aby dowiedzieć się więcej
Osoba kontaktowa:
Joanna Bielewicz
tel.: (012) 397 1881
email: info@tqmsoft.com.pl
| Tytuł: | Analiza systemów pomiarowych - metoda R&R |
|---|---|
| Kategoria: | JAKOŚĆ I BEZPIECZEŃSTWO / Inne |
| Metodyka: | Ćwiczenia |
| Opis: | Przedmiot szkolenia Analiza systemów pomiarowych - metoda R&R: Metody określania zdolności systemów pomiarowych dla właściwości mierzalnych wg wytycznych QS 9000 / MSA-3*. Analiza powtarzalności i odtwarzalności „R&R”, niepoprawność, rozdzielczość, wskaźniki oceny zdolności, interpretacja i wymagania. Analiza graficzna. Wprowadzenie teoretyczne i aspekty praktyczne stosowania metod oceny zdolności systemów pomiarowych w metrologii wielkości geometrycznych. Adresaci szkolenia: 1.Osoby odpowiedzialne za nadzór nad środkami kontrolno – pomiarowymi. 2.Pracownicy izb pomiarów i laboratoriów pomiarowych. 3.Osoby z nadzoru technologicznego (technolodzy, kierownicy) odpowiedzialni za dobór środków pomiarowych do kontroli wyrobu / nadzorowania procesu. Korzyści dla przedsiębiorstwa: 1.Zdobycie umiejętności pozwalających na samodzielne prowadzenie analiz R&R. 2.Poznanie efektywnej, empirycznej metody szacowania niepewności pomiaru. 3.Możliwość weryfikacji poprawności doboru środków pomiarowych dla zadań pomiarowych. 4.Zapoznanie się z możliwościami wspomagania komputerowego w zakresie analizy zdolności systemów pomiarowych. |
| Poziom zaawansowania : | początkujący |
| Trenerzy: | trener TQMsoft, specjalista – praktyk w dziedzinie wdrażania metod i narzędzi wspomagających zarządzanie jakością |
| Program: | 1.Zdolność systemu pomiarowego: • klasyfikacja błędów pomiarów (systematyczne, przypadkowe, nadmierne), przyczyny zmienności wyników pomiarów, • niepewność pomiaru a podejmowanie decyzji w procesie produkcji - skutki błędów pomiaru dla kontroli jakości i dla sterowania procesem, • błędy pomiaru w różnych warunkach pomiaru (powtarzalności i odtwarzalności), • opis zdolności systemów pomiarowych - definicje i interpretacja: • niepoprawność wskazań (błąd systematyczny), • powtarzalność i odtwarzalność (błędy przypadkowe), • zmienność całkowita a zmienność własna procesu, • rozdzielczość, • wskaźniki zdolności Cg, Cgk, %EV, %AV, %R&R, %PV, ndc, • liniowość i stabilność systemu pomiarowego, • wymagania – ocena zdolności systemów pomiarowych dla zadań pomiarowych związanych z kontrolą jakości lub sterowaniem procesem. 2.Metodologia badań zdolności systemów pomiarowych za pomocą analizy R&R: • procedura typu 1, • procedura typu 2 (pełna – metoda rozstępów i średnich ARM), • procedura typu 2 (uproszczona – metoda rozstępów RM), • procedura typu 3, • analiza R&R a niepewność pomiaru. 3.Graficzna prezentacja wyników analizy R&R. Ćwiczenia: 1.Wyznaczanie i interpretacja współczynników zdolności Cg, Cgk – analiza typ 1. 2.Ocena zdolności przyrządu dla zadania pomiarowego typu „orzekanie zgodności ze specyfikacją” oraz do zastosowań w SPC: • analiza R&R typ 2 metodą średnich i rozstępów oraz metodą rozstępów, • analiza graficzna wyników pomiarów – zaawansowane wnioskowanie o systemie pomiarowym, • analiza R&R typ 3, • analiza stabilności systemu pomiarowego za pomocą karty kontrolnej Xśr-R. |
| Świadczenia dodatkowe: | szkolenie, materiały, certyfikat uczestnictwa w szkoleniu, obiady, słodki poczęstunek, możliwość bezpłatnych, krótkich konsultacji do 3 miesięcy po szkoleniu, pomoc w rezerwacji hotelu |
Poleć szkolenie znajomemu
